電鏡原位納米壓痕測試系統(tǒng)InSEM
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發(fā)布時間 15/03/15
InSEM®HT（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡 （SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級研究人員開發(fā)新的實驗?？茖W(xué)出 版文獻表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)的大規(guī)模高溫測試數(shù)據(jù)匹配良好。測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點使InSEM HT成為材料 開發(fā)研究計劃中很有價值的設(shè)備。
產(chǎn)品描述 InSEM HT高溫測試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。 系統(tǒng) 溫度可高達800°C，因而可以模擬現(xiàn)場極端溫度條件，以獲得可靠一致的測試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化，可用于 高溫測試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。
主要功能InForce 50驅(qū)動器，壓頭可加熱，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭樣品可升溫至800°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng) InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù) 用于樣本定位的XYZ移動系統(tǒng) SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進行同步 獨特的軟件集成壓頭校準系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速，準確的壓頭校準 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計實驗的方法開發(fā)功能 主要應(yīng)用高溫測試硬度和模量測量（Oliver-Pharr） 連續(xù)剛度測量 高速材料性質(zhì)分布 蠕變測量 應(yīng)變率靈敏度 工業(yè)應(yīng)用大學(xué)、研究實驗室和研究所航空航天 汽車制造業(yè) 硬涂層 核能 軍事/國防
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